型號：

x射線膜厚測試儀THICK8000

描述：x射線膜厚測試儀THICK8000是一款快速、無損、精確的電鍍城厚度測試儀器，主要用在鍍鋅（Zn）、鍍鎳（Ni）、鍍錫（Sn）、鍍金（Au）、鍍銀（Ag）等金屬鍍層厚度測測試，*薄可測試0.005μm，為企業(yè)嚴格控制產(chǎn)品質(zhì)量，防止鍍的過厚（增加產(chǎn)品成本）或者過薄（產(chǎn)品不合格）帶來的損失.

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時間
2025-05-18
訪問量
1325

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x射線膜厚測試儀X射線激發(fā)源：5OKV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源

探測器及分辨率：SDD探測器，分辨率140±5eV

定位精度：0.001mm

測量時間：10s及以上

樣品平臺移動范圍：120mm×120mm

樣品腔升降平臺移動高度：0～150mm

主機壹臺，含下列主要部件：

(1)微焦斑X光管

(2)大面積SDD電制冷半導體探測器

(3)數(shù)字多道分析器

(4)超高精度三維移動平臺

(5)全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭

(6)高低壓電源

(7)激光定位裝置及圖像自動對焦技術(shù)

(8)開放式樣品腔及鉛玻璃屏蔽罩

(9)電動調(diào)節(jié)準直器

(10)防撞激光保護器

x射線膜厚測試儀資料：儀器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。

準直孔：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種（已內(nèi)置于儀器中）

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