高精度薄膜測厚儀

全新下照式設計、性價比高、適用性強，輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測，且能自動判定測試結果。

1）搭載微聚焦加強型X射線發生器和*光路轉換聚焦系統

2）擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm

3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

4）配備高精密微型移動滑軌，可實現多點位、多樣品的精準位移和同時檢測

5）可同時分析23個鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層檢出限：0.005μm

6）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

7）配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度10%

XU-100廣泛應用于電鍍層分析、緊固件行業、五金行業、汽車零部件、配飾厚度分析、電子元器件等多種行業

   利用X射線熒光進行鍍層厚度測量和材料分析。能夠快速無損分析以確保您的持續生產和產品質量。它基于X-射線熒光技術，可以在無需制樣的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體。

優勢：超高的性價比；操作簡單；高質量高可靠性的全日制24小時/7天操作；快速的服務響應。

無損檢測只需幾秒鐘，位置了保證和過程控制提供單層或多層分析，能進行合金成分的定量分析，可用于優化電鍍液控制的金屬離子含量分析。能夠解決微小物品的微米納米的厚度測量，不再因聚焦影響精度的傻瓜模式，原廠預做曲線，無需大量購買校正片。